井芯微申请一种扩展测试板专利,可实现对不同损耗条件下电信号的测试

井芯微申请一种扩展测试板专利,可实现对不同损耗条件下电信号的测试
2024年11月30日 17:33 金融界火线

金融界2024年11月30日消息,国家知识产权局信息显示,井芯微电子技术(天津)有限公司申请一项名为“一种扩展测试板”的专利,公开号CN 119044735 A,申请日期为2024年9月。

专利摘要显示,本申请公开了一种扩展测试板,可应用于芯片测试技术领域,该扩展测试板可实现对不同损耗条件下的电信号进行测试,包括:测试板主体和设置在所述测试板主体上的连接器组件;每组所述连接器组件包括两个第一连接端、两个第二连接端以及一对差分传输线;所述第一连接端用于与芯片测试板连接,并接收电信号;所述第二连接端用于与高速示波器连接,并发送电信号;所述差分传输线一端与所述第一连接端连接,另一端与所述第二连接端连接,用于传输电信号。如此,可以通过对不同组连接器组件中的差分传输线进行区别设置,从而实现对不同损耗条件下的电信号进行信号质量的测试,进而为后期不同产品应用此芯片时的PCB设计提供参考。

财经自媒体联盟更多自媒体作者

新浪首页 语音播报 相关新闻 返回顶部