金融界 2024 年 12 月 4 日消息，国家知识产权局信息显示，FEI 公司申请一项名为“用于细长样品的三维断层摄影的方法”的专利，公开号 CN 119064389 A，申请日期为 2024 年 5 月。
专利摘要显示，用于细长样品的三维断层摄影的方法。一种三维(3D)断层摄影的方法包括：提供包括细长部分的样品，该细长部分的伸长限定具有轴长度的细长轴；获取该细长部分沿其轴长度的多个二维(2D)复合图像，每个 2D 复合图像由相应的一系列图像帧生成并且包括平行于该细长轴的该细长部分的投影，其中每个 2D 复合图像是在该样品相对于该样品的初始取向围绕与该细长轴基本上重合的旋转轴的不同的相应旋转角度下获取的；以及组合该多个投影图像以获得该样品的该细长部分的 3D 断层摄影表示。
