耐而达取得一种芯片测试分选平台可调节压接高度式工装夹具专利,适应不同规格和尺寸的芯片测试需求

耐而达取得一种芯片测试分选平台可调节压接高度式工装夹具专利,适应不同规格和尺寸的芯片测试需求
2024年12月04日 17:11 金融界火线

金融界2024年12月4日消息,国家知识产权局信息显示,耐而达精密工程(苏州)有限公司取得一项名为“一种芯片测试分选平台可调节压接高度式工装夹具”的专利,授权公告号 CN 222087796 U,申请日期为2024年2月。

专利摘要显示,本实用新型涉及芯片测试分选领域,且公开了一种芯片测试分选平台可调节压接高度式工装夹具,包括测试平台、支撑腿以及连接插口,测试平台的内腔中设置有控制系统以及数据分析系统,测试平台的一侧向内凹陷设置有连接插口,测试平台的上下两侧四角出均设置有支撑腿,测试平台的上表面一端固定连接有测试工板,还包括,夹持装置,位于测试平台的上表面一端,支撑装置,位于测试工板的下方,本实用新型可适应不同规格和尺寸的芯片测试需求,避免了传统夹具适用范围有限的问题,夹持装置通过螺纹旋转的方式移动芯片固定杆,实现了高精度的调节,确保夹具主体的高度准确可靠,从而保证芯片与测试座之间接触稳定可靠。

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