3D传感器低良率导致iPhone X量产推迟
凤凰科技讯 据科技博客9to5mac北京时间9月27日报道，《华尔街日报》的一篇最新报道证实了供应链的报告：3D传感器的低良率导致iPhone X量产推迟。
昨天来自供应链的消息称，苹果公司供应商在iPhone X原深感相机模组使用的3D传感器上遇到了严重良率问题。这一问题如此严重以至于IPhone X每天的产量只有数万部。
《华尔街日报》今天又披露了新的细节。文章称，生产问题与两个部件相关，其中一个比另外一个更为棘手。
知情人士称，苹果在新款iPhone X上遇到了另一个生产障碍。这次问题出在两个被称之为“罗密欧”和“朱丽叶”的部件上，它们是苹果新面部识别系统的“阴阳”部分。该系统能够允许iPhone X用户通过扫描他们的面部解锁手机。
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